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本发明提供一种存储器装置的测试方法，可降低测试的错误覆盖率。内存装置的测试方法包括：关闭存储器装置的备援功能，并对第一存储单元数组写入第一数据；启动存储器装置的备援功能，并对第二存储单元数组写入第二数据，其中第一数据与第二数据互补；依据边界条件，对非易失存储区块读取备援信息，基于备援信息，读取第二存储单元数组以获得第一读取数据；以及依据比较第二数据与第一读取数据以产生第一测试结果。其中，第二存储单元数组包括第一存储单元数组的部分存储单元以及至少一备援存储单元。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN113517018A
(43)申请公布日
2021.10.19
(21)申请号20201
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