原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本公开涉及一种芯片功能测试方法、装置和存储介质。该方法包括：确定激励的数据结构以及针对激励的约束，激励表示用于触发芯片的输入信号；基于激励的数据结构，确定测试对象，测试对象包括单一测试对象和组合测试对象，测试对象具有对应的仓；根据针对激励的约束，确定目标测试对象的忽略仓，以创建功能覆盖率模型，其中，忽略仓为不计入功能覆盖率统计的仓，功能覆盖率模型用于对芯片进行功能覆盖率验证，得到测试结果。根据本申请实施例，可以实现根据芯片配置约束来自动、精确地创建忽略仓，减少了误添加或少添加忽略仓的可能。可以在
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117873901A
(43)申请公布日2024.04.12
(21)申请号202410198681.0
(22)申请日2024.02.22
(71)申请人大连海事大学
地址116026
文档评论（0）