《数字系统测试与可测试性设计基础》结课论文.pdfVIP

《数字系统测试与可测性设计基础》

结课论文

题目：基于测试向量重组的VLSI低功耗测试算法

基于测试向量重组的VLSI低功耗测试算法

摘要：随着集成电路集成度和时钟频率的大幅度提高，测试功耗和测

试时间急剧增加，这便成为集成电路测试中亟待解决的问题。本文在

课本所学知识的基础上，对当前流行的几种集成电路测试算法进行了

简要介绍，并着重探讨了基于测试向量重组的低功耗测试算法。

关键字：低功耗测试；汉明间距；重组算法

Abstract：Withtherapiddevelopmentofintegratedcircuitsand

increasedclockfrequency,thepowerconsumeandtesttime

becomeanurgentproblemtosolve.Basedontheknowledgethat

learnedinclass,thisarticleintroducesafewalgorithms

briefly,andtalksaboutthelow-powertestalgorithmbasedon

testvectorsreorderingindetail.

Keywords:lowtestpower；HammingDistance；reordering

algorithm

1.引言

近些年来，随着电路集成度和制造工艺的进步，与之相关的集成

电路测试复杂度和测试功耗也越来越高。集成电路的测试功耗不仅会

使系统可靠性降低，成品率下降，还会减少电路寿命。与此同时，集

成电路的测试功耗会直接反映在其热损耗上，而且需要昂贵的冷却技

术和负载与之匹配，从而极大地增加了电路的成本。所以，在集成电

路可测试性设计中，考虑如何降低测试功耗是当前新的研究热点和研

究领域。

集成电路测试，就是生成一组被称为测试向量的二进制向量，将

其输入到电路系统中，观察由此产生的输出响应，并与预期的正确结

果进行比较，一致就表示系统正常，不一致则表示系统有故障。显然，

测试电路的质量依赖于测试矢量的精度。一组好的测试向量，即用最

少的测试向量覆盖最多的故障。

目前流行的几种测试算法主要有D算法，PODEM算法，FAN算法

等。

D算法是基于集合理论的多路径算法，1966年由Roth正式提出

并解释，这种算法已经考虑了故障信号向原始输出端传播的所有可能

的路径，经试验证实，这种方法是可行的，并且一直沿用至今。

PODEM算法则是一个程序，它吸收了穷举法的优点，对激活的故

障向后追踪到原始输入，搜索可能的原始输入赋值，只要找到一个符

合要求的即可作为测试图形。

FAN算法则发展了PODEM算法的向后追踪概念，并且使得向后追

踪操作尽可能少，也就降低了测试生成时间。

然而，以上几种算法在测试功耗上有很大的局限性，它们并不能

有效地降低测试功耗。

理论表明，汉明间距（HammingDistance）与集成电路平均功耗

之间的关系对优化测试功耗有重要影响。所谓汉明间距，是指连续测

试向量之间的距离。利用相邻测试向量之间的汉明间距，按照特定的

顺序对测试向量进行排序，使得总汉明间距（TotalHamming

Distance,THD）最小，从而达到优化测试的目的。这种具有最小THD

的测试向量是通过相关的优化技术获得的。

最近，K.Paramasivam提出了一种新颖的基于测试向量重组的低

功耗测试算法。这种算法通过减小连续测试向量之间的汉明间距

（HammingDistance）来使得电路中的开关活动达到最小，从而降低

测试功耗。在这种方法中，测试向量依据汉明间距之和的最小值得以

重组。实验表明，在使用ISCAS基准集成电路时，用重组算法测得的

开关活动比一般ATPG算法减少了21%。

这本篇论文的第二部分中，我将着重介绍这种方法。

2.测试向量重组算法

集成电路测试功耗是通过减小电路状态转换次数来达到最小的，

而这可以通过减小相邻测试向量之间的汉明间