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2024-04-17 发布于四川
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本实用新型公开了一种芯片测试系统，属于ADC芯片测试技术领域,包括：PC机、数据采集模块、DDS信号源、DUT测试载板和数字电源；所述PC机分别与所述数据采集模块、所述DDS信号源连接；所述数据采集模块分别与所述DUT测试载板和所述PC机连接；所述数字电源分别与所述DDS信号源、所述DUT测试载板和所述数据采集模块连接，所述数字电源用于给所述DDS信号源和所述DUT测试载板供电。本申请与传统高精度同步ADC芯片的测试相比较，具有设备投入费用较少、设备组成简单、测量精确度高、测试效率高的特点，极大

(19)国家知识产权局

(12)实用新型专利

(10)授权公告号CN220795403U

(45)授权公告日2024.04.16

(21)申请号202322421193.5

(22)申请日2023.09.07

(73)专利权人西安集芯微电子科技有限公司

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