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存储产品的品质检测方法、装置、存储介质及设备.pdfVIP

存储产品的品质检测方法、装置、存储介质及设备.pdf

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    本发明公开了一种存储产品的品质检测方法，其包括：对存储产品进行上电，并向存储产品的每一个flash单元写满测试数据；每隔预设时间对每一个flash单元进行读操作，以获取每一个flash单元中所有block的RBER数据；当对flash单元进行的读操作循环次数达到预设值时，根据已统计的所有block的RBER数据判断存储产品是否为良品。本发明通过对flash单元进行循环读操作，以获取每一个block的RBER数据，根据收集到的RBER数据对存储产品的品质进行评估，从而确定是否存在超出ECC纠错范围

    (19)中华人民共和国国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN110781043A

    (43)申请公布日

    2020.02.11

    (21)申请号20191

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