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一种红外探测器材料检测的方法.pdfVIP

一种红外探测器材料检测的方法.pdf

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    本发明公开了一种红外探测器材料检测的方法。该方法包括：使用X射线形貌术方法检测红外探测器材料的晶体极限应力值，根据所述晶体极限应力值计算晶体良品许用应力值，将所述红外探测器材料腐蚀后测量并计算所述红外探测器材料的位错密度，根据所述晶体良品许用应力值和所述位错密度确定所述红外探测器材料是否合格，由此可以避免制作阶段造成人力、物力和时间成本的浪费。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117907350A

    (43)申请公布日2024.04.19

    (21)申请号202311137480.1

    (22)申请日2023.09.05

    (71)申请人浙江红谱科技股份有限公司

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