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本发明涉及一种的DDS芯片的自动化测试方法，包括以下步骤：开始检测前上位机网络自检，开发下发自动检测命令；设置JDDS9957测试信号频率值和功率电平，由上位机通过网络交换机下发到信号源，频点选择芯片手册推荐的典型值给定；DDS测试母板接收到JDDS9957参考时钟数据后，通过测试母板算法处理使JDDS9957发射一个固定功率电平和频率值的测试频点，通过SMA给到频谱仪，频谱仪对接收的到的测试频点进行相关动态指标的测算；上位机通过网络交换机实时读取频谱仪测试的动态指标数据，与手册典型指标作对比，
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117907796A
(43)申请公布日2024.04.19
(21)申请号202311740760.1
(22)申请日2023.12.18
(71)申请人中国电子科技集团公司第五十八研
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