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- 2024-04-27 发布于上海
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NORMECEI
INTERNATIONALEIEC
INTERNATIONAL62373
STANDARDPremièreédition
Firstedition
2006-07
Essaidestabilitédetempératureenpolarisation
pourtransistorsàeffetdechampmétal-oxyde-
semiconducteur(MOSFET)
Bias-temperaturest
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