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基于GTEM小室辐射发射测试的若干关键技术研究的中期报告

中期报告

一、研究背景

GTEM小室（GigaHertzTransverseElectromagneticModeCell）辐射发射测试方法是一种在电磁封闭小室内进行的电磁辐射发射测试方法，主要用于进行电子产品、通信设备、航空航天设备等电磁辐射测试。与传统的开放场线性天线测试方法相比，GTEM小室具有仪器简单、操作方便、测试时间短、测试结果可靠等优点，已成为工业化检测过程中广泛使用的一种方法。

二、研究内容

1.GTEM小室的原理及特点

GTEM小室是一种内置有传输线及反射器的电磁孔洞，由于电磁波的传输是以穿过小室内的传输线和反射器进行的，在小室内可以模拟多种电磁波场，从而可对被测试物的电磁辐射特性进行扫描测试。

GTEM小室的特点主要有：辐射电场几乎是均匀分布在小室内；小室内不存在和谐频率；小室内的场分布与传入信号的频率及入射位置有关；小室内的场分布依赖于小室的几何结构和材料特性。

2.GTEM小室辐射发射测试的关键技术

（1）小室的设计及优化

在GTEM小室辐射发射测试中，小室是最重要的构成部分之一，其几何结构、尺寸、材料等都会直接影响测试的准确性。因此，对小室进行设计及优化非常关键。

（2）小室内的场分布计算

在进行GTEM小室辐射发射测试时，需要对小室内的场分布进行计算。一般采用数值电磁计算软件进行计算，但要求精确度高，计算复杂度大。

（3）耦合器的设计优化

在GTEM小室辐射发射测试中，耦合器起着连接外界信号与小室内场的重要作用。因此，对耦合器进行设计优化可以提高测试的准确性。

（4）测试设备的校准及校验

在进行GTEM小室辐射发射测试时，测试设备需要进行校准及校验，以确保测试结果的准确性。测试设备主要包括磁场探针、电场探针、频谱分析仪等。

三、研究进展

在研究期间，我们对GTEM小室辐射发射测试方法进行了深入的研究。首先，我们对传统GTEM小室进行了分析，并对其进行了优化设计，使得其具有更好的性能和更高的测试精度。针对从上述分析得到的优化方案，我们设计了一个新的GTEM小室，并进行了实验验证。同时，我们还对GTEM小室辐射发射测试的关键技术进行了详细的研究，包括小室内的场分布计算、耦合器的设计优化等方面。实验结果表明，我们的GTEM小室辐射发射测试方法能够提供准确、可靠的测试结果，且具有工业化应用的潜力。

四、下阶段工作计划

在下一阶段，我们将继续开展以下工作：

（1）对GTEM小室辐射发射测试方法进行深入的研究和探讨；

（2）对小室内的场分布计算、耦合器的设计优化等关键技术进行深入研究和优化；

（3）对GTEM小室辐射发射测试方法进行完整的试验验证及性能评估；

（4）深入了解GTEM小室辐射发射测试方法在实际工作中的应用情况，并优化相关算法和技术。