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GBT5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法.pdfVIP

GBT5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法.pdf

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    ICS31-030

    L90

    中华人民共和国国家标准

    /—

    GBT5594.82015

    代替/—

    GBT5594.81985

    电子元器件结构陶瓷材料

    性能测试方法

    :

    第部分显微结构测定方法

    8

    Testmethodsforroertiesofstructureceramic

    pp

    —

    usedinelectroniccomonentsanddevice

    p

    :

    Part8Testmethodformicrostructure

    2015-05-15发布2016-01-01实施

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

    发布

    中国国家标准化管理委员会

    中华人民共和国

    国家标准

    电子元器件结构陶瓷材料

    性能测试方法

    :

    第部分显微结构测定方法

    8

    /—

    GBT5594.82015

    *

    中国标准出版社出版发行

    北京市朝阳区和平里西街甲号()

    2100029

    北京市西城区三里河北街号()

    16100045

    网址:

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    服务热线:

    400-168-0010

    010

    年月第一版

    20154

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    书号:·

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