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一种芯片测试设备中的测量装置.pdfVIP

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  • 2024-05-25 发布于四川
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一种芯片测试设备中的测量装置.pdf

    本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试设备中的测量装置，包括主体机构、测量机构和收集机构，所述测量机构位于主体机构的内部，所述收集机构位于主体机构的右端，所述主体机构包括支撑底座、支撑柱、连接板、传送带、安装架和显示屏，所述支撑柱的下端固定连接在支撑底座的上端，所述连接板的下端固定连接在支撑柱的上端，所述传送带转动连接在连接板的上端，所述安装架的前端固定连接在连接板的后端，所述显示屏的后端固定连接在安装架的顶壁前端，该芯片测试设备中的测量装置，通过测量机构的结构，便于该芯片测试设备

    (19)国家知识产权局

    (12)实用新型专利

    (10)授权公告号CN220991908U

    (45)授权公告日2024.05.24

    (21)申请号202322823328.0

    (22)申请日2023.10.20

    (73)专利权人弘润半导体（苏州）有限公司

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