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一种基于相变单元的透射型辐射探测方法.pdf

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    一种基于相变单元的透射型辐射探测方法，属于辐射检测领域。采用相变材料薄膜吸收辐射后透射率差异的探测方式，通过激光器发出光束经半透半反镜后分成两束光，一束穿过晶态相变薄膜后被光接收器接收得到其透过率，另一束经反射镜反射后穿过非晶态相变薄膜被光接收器接收得到其透过率，通过计算透过率差来评估辐射的有无及剂量。该方法不在需要传统探测过程中的电荷收集过程，而是基于相变材料的结构特征，并将光电技术相结合，包含了光传输的稳定、超快特性和电接收的普适性，减少了探测过程中极端环境的干扰，探测稳定性和性能都得到显著

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN118068385A

    (43)申请公布日2024.05.24

    (21)申请号202410250090.3

    (22)申请日2024.03.05

    (71)申请人北京工业大学

    地址100124

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