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本申请涉及一种电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质。电路板晶须物质的检测方法包括获取电路板检测图像。对电路板检测图像进行灰度化处理，获得电路板灰度图像。对电路板灰度图像进行中值滤波处理，获得滤波图像。对滤波图像进行二值化处理，获得二值化图像。对二值化图像进行边缘检测，获得边缘图像。对边缘图像进行轮廓检测，获得边缘图像中所有轮廓，并将所有轮廓内部填充为单一颜色，获得轮廓填充图像。对轮廓填充图像进行形态学开运算，获得开运算轮廓。若开运算轮廓为线形轮廓，则为电路板晶须物质的轮廓。通过电路板晶
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN112150433A
(43)申请公布日2020.12.29
(21)申请号202011001531.4G06T7/13(2017.01)
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