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2024-05-29 发布于四川
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晶体管参数量测装置包含量测电路及处理器。量测电路产生初始电压及初始电流至待测晶体管，量测待测晶体管响应初始电流的第一电压。处理器耦接量测电路，并于第一阶段根据初始电流产生第一电压差值。处理器根据第一电压差值控制量测电路，调整初始电压至基准电压。当量测电路处于基准电压下，处理器于第二阶段控制量测电路以产生第一电流至待测晶体管，通过量测电路量测待测晶体管响应第一电流的第二电压以计算第二电压差值。处理器根据初始电流、第一电流、前述两种电压差值计算待测晶体管的跨导参数。本案通过控制待测晶体管的漏极及源极

(19)国家知识产权局

(12)实用新型专利

(10)授权公告号CN221039311U

(45)授权公告日2024.05.28

(21)申请号202322673663.7

(22)申请日2023.10.07

(30)优先权数据

1112144032022.

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