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一种老化测试电路及老化测试方法.pdfVIP

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  • 2024-05-29 发布于四川
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一种老化测试电路及老化测试方法.pdf

    本发明涉及半导体器件测试领域，公开了一种老化测试电路及老化测试方法；老化测试电路包括激励源、电流检测电路及过流保护电路；激励源与被测器件连接，激励源用于激励被测器件使被测器件产生漏电流；电流检测电路与被测器件连接，用于接收漏电流并输出检测电压；过流保护电路与所述电流检测电路连接，用于控制被测器件漏电流的输出，保护被测器件不会因漏电流过大被破坏。本发明提供了一种改进后的老化测试电路，在进行老化测试同时有效控制漏电流，避免被测器件被破坏。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN118091355A

    (43)申请公布日2024.05.28

    (21)申请号202410466920.6

    (22)申请日2024.04.18

    (71)申请人佛山市联动科技股份有限公司

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