GB_T 4937.34-2024 半导体器件机械和气候试验方法第34部分：功率循环.pdfVIP

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2024-06-25 发布于山东
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GB_T 4937.34-2024 半导体器件机械和气候试验方法第34部分：功率循环.pdf

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ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT4937.342024IEC60749-342010

半导体器件机械和气候试验方法

第34部分：功率循环

第部分功率循环

——

SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

Part34:Powercycling

Part34Powercclin

(:,)

(IEC60749-34:2010,IDT)

IEC60749-342010IDT

2024-03-15发布

2024-03-15发布2024-07-01实施

国家市场监督管理总局

国家市场监督管理总局发布

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBT4937.342024IEC60749-342010

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

/《》。/

本文件是半导体器件机械和气候试验方法的第部分已经发布了

GBT493734GBT4937

以下部分：:

以下部分

———:;

第部分总则

——第1部分：总则；

———:;

第部分低气压

——第2部分：低气压；

——第3部分：外部目检；

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