技术测试报告2010 guangzhou zlgmcu development功耗lpc12mhz.pdf

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周立功单片机

技术测试报告

ZLG测试报告ID

测试目的

1.测量标准测试条件下M0在正常运行模式、普通睡眠模式、深度睡眠模式和深

度掉电模式下的功耗;

2.测量标准测试条件下的深度睡眠模式和深度掉电模式下的PLL唤醒锁定时间。

测试信息

测试人/-测试日期

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