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半导体CV测量根底
公布:2023-12-0719:28|作者:mickey1999|来源:EETOP赛灵思〔Xilinx〕社区
半导体C-V测量根底
----C-V测量为人们供给了有关器件和材料特征的大量信息
通用测试
电容-电压〔C-V〕测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET构造。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进展特征分析,包括双极结型晶体管〔BJT〕、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管〔CNT〕和多种其他半导体器件。
这类测量的根本特征
专注地铁、铁路、市政领域安全管理资料的定制、修改及润色,本人已有7年专业领域工作经验,可承接安全方案、安全培训、安全交底、贯标外审、公路一级达标审核及安全生产许可证延期资料编制等工作,欢迎大家咨询~
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