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ICS31.080.01
L40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.182018IEC60749-182002
半导体器件机械和气候试验方法
:()
第部分电离辐射总剂量
18
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:()
Part18Ionizinradiationtotaldose
g
(:,)
IEC60749-182002IDT
2018-09-17发布2019-01-01实施
国家市场监督管理总局
发布
中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国
国家标准
半导体器件机械和气候试验方法
:()
第部分电离辐射总剂量
18
/—/:
GBT4937.182018IEC60749-182002
*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲号()
2100029
北京市西城区三里河北街号()
16100045
网址:
pg
服务热线:
400-168-0010
年月第一版
20189
*
书号:·
1550661-61111
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