JJF（京）156-2024 痕量水分仪校准规范.pdf

北京市地方计量技术规范

JJF（京）156-2024

痕量水分仪校准规范

CalibrationSpecificationofTracemoisturemeter

2024-05-16发布2024-07-01实施

北京市市场监督管理局发布

JJF(京)156-2024

痕量水分仪校准规范

JJF(京)156-2024

CalibrationSpecificationofTrace

moisturemeter

归口单位：北京市市场监督管理局

主要起草单位：中国航空工业集团公司北京长城计量

测试技术研究所

本规范委托中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所负责解释

JJF(京)156-2024

本规范主要起草人：

巩娟（中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所）

何萌（中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所）

谢凯丽（中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所）

JJF(京)156-2024

目录

目录（I）

引言（II）

1范围（1）

2引用文件（1）

3术语和定义（1）

4概述（2）

5计量特性（2）

6校准条件（3）

6.1环境条件（3）

6.2校准前的准备工作（3）

6.3校准用设备（4）

7校准项目和校准方法（4）

7.1校准项目（4）

7.2校准方法（4）

8校准结果表达（7）

9复校时间间隔（8）

附录A原始记录格式（9）

附录B校准证书内页格式（10）

附录C痕量水分仪露点温度示值误差测量不确定度评定的示例（11）

I

JJF(京)156-2024

引言

本规范依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011《通

用计量术语及定义》和JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》编制。

本规范为首次发布。

II

JJF(京)156-2024

痕量水分仪校准规范

1范围

本规范适用于光腔衰荡光谱法(CRDS)和可调谐半导体激光吸收光谱法

(TDLAS)原理以及其他光学原理的痕量水分仪的露点温度、体积比参数的校准。

2引用文件

本规范引用了下列文件：

JJG499-2021精密露点仪

JJF1272-2011阻容法露点湿度计

JJF1012-2007湿度与水分计量名词术语及定义

GB／T5832.3-2011气体中微量水分的测定第3部分：光腔衰荡光谱法

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引

用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。

3术语和定义

3.1光腔衰荡光谱法CavityRing-DownSpectroscop