原创力文档【英语版】国际标准 IEC 60747-5-15:2022 EN 半导体器件-第5-15部分：光电子器件-发光二极管-基于电反射光谱的平坦电压测试方法 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy.pdf
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- 2024-07-06 发布于四川
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IEC60747-5-15:2022半导体装置-第五部分:光电子装置-发光二极管-基于电反射光谱学平带电压的测试方法描述了一种测试方法，适用于评估发光二极管的性能。这种方法基于电反射光谱学，是一种光学测量技术，用于测量薄膜器件的光吸收、发射和散射特性。通过使用电反射光谱仪，该方法可以测量发光二极管在各种电压下的反射率和光谱分布，从而获取其电学和光学特性之间的相互关系。通过分析这些关系，可以评估发光二极管的性能，包括其工作模式、效率、色坐标、频谱宽度等。这种测试方法对于评估发光二极管的性能和质量非常重要，因为它提供了有关器件在不同电压下的光学和电学特性的详细信息，有助于识别和解决潜在的问题，并帮助开发更高效、性能更好的发光二极管。
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