【英/法语版】国际标准 IEC 60748-20-1:1994 EN-FR 半导体器件-集成电路-第20部分：薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范-第1部分：内部目视检查要求 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Require.pdf

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IEC60748-20-1:1994EN-FR半导体装置-集成电路-第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的一般规范-第1部分:内部目视检查要求

IEC60748-20-1:1994是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门针对薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的内部目视检查（IVI）进行了规定。这个标准主要涉及到半导体器件中集成电路的设计、制造和测试过程。

具体来说，这个标准对以下内容进行了详细的规定：

1.集成电路的设计应考虑到内部目视检查的可行性，包括但不限于电路布局、窗口和标记的设计等。

2.制造过程应保证集成电路的可见性，以便在必要时进行目视检查。

3.测试过程应包括对内部电路的完整性和功能的检查，以确保它们符合规格和预期用途。

该标准还对薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的特殊要求进行了规定，例如对材料、厚度、颜色、标记等方面的要求。

IEC60748-20-1:1994标准为半导体器件中集成电路的内部目视检查提供了详细的规范和要求，以确保这些器件的质量和可靠性。