【英/法语版】国际标准 IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV EN-FR 集成电路-电磁辐射的测量，150 kHz至1 GHz-第6部分：传导电磁辐射的测量-磁探针法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method.pdf

以下文本介绍内容由我方AI生成，信息仅供参考，如有出入，请以实际为准。

IEC61967-6标准是一套针对集成电路（IntegratedCircuits）电磁辐射测试的国际标准，具体内容为电磁辐射在150kHz到1GHz频率范围内的传导辐射测量方法。该标准主要关注电子设备在运行过程中产生的电磁辐射，以及这些辐射对人类和其他设备可能产生的影响。

IEC61967-6:2002+AMD1:2008中提到的CSVEN-FRIntegratedcircuits是集成电路的一种分类方式，而电磁辐射则是在电子设备运行过程中不可避免的现象。标准中对电磁辐射的测量分为许多部分，包括天线耦合、空间辐射、时间变化等。其中，Part6重点介绍了传导发射的测量方法。

磁探针法（Magneticprobemethod）是测量传导发射的一种常见方法。它通过磁感应原理，将电路中的电流转化为磁场，再通过磁探针系统测量并记录磁场强度。这种方法适用于测量低频到高频范围内的传导发射，具有较高的准确性和可重复性。

在进行传导发射的测量时，需要选择适当的测试环境，包括测试室温度、湿度、电磁干扰抑制措施等。同时，需要使用适当的测试夹具和磁探针系统，以确保测试的准确性和可靠性。测量结果可以用于评估电子设备的电磁辐射性能，并为改进设计和降低辐射提供依据。