【英语版】国际标准 ISO/IEC 11694-1:2012 EN 身份证--光学记忆卡--线性记录方法—第一部分:物理特性 Identification cards -- Optical memory cards -- Linear recording method -- Part 1: Physical characteristics.pdf
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- 2024-07-10 发布于四川
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ISO/IEC11694-1:2012EN《识别卡—光学记忆卡—线性记录方法—第1部分:物理特性》是国际标准化组织ISO发布的标准,它规定了光学记忆卡(如智能卡、RFID卡等)的物理特性,包括尺寸、厚度、材料、结构、接口、电气特性和机械特性等。该标准主要用于规范光学记忆卡的制造和测试,以确保其符合相关安全和性能要求。
该标准的物理特性包括以下几个方面:
1.尺寸和厚度:光学记忆卡应有特定的尺寸和厚度,以确保其适应用户设备的要求和集成到各种系统中。
2.材料:光学记忆卡应使用适合其功能和耐久性的材料制成。一般来说,卡片应采用不易磨损、耐腐蚀的材料,以确保其长期稳定的使用性能。
3.结构:光学记忆卡应有特定的结构和接口,以便于制造、封装和与外部设备的连接。该标准还规定了卡片中记录媒体的结构和布局,以确保数据的安全和可读性。
4.电气特性:光学记忆卡应具有特定的电气特性,如工作电压、电流、数据传输速率等,以确保其正常工作并符合相关安全标准。
5.机械特性:光学记忆卡应具有特定的机械特性,如抗冲击、抗振动、耐环境湿度等,以确保其能在各种环境中稳定工作。
ISO/IEC11694-1:2012EN标准详细规定了光学记忆卡的物理特性,包括其尺寸、厚度、材料、结构、接口、电气特性和机械特性等,以确保其符合相关安全和性能要求,并保证其长期稳定的使用性能。
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