【英/法语版】国际标准 IEC 62132-8:2012 EN-FR 集成电路电磁抗扰度测量—第8部分：辐射抗扰度测量—集成电路片状法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method.pdf

IEC62132-8:2012EN-FR的中文翻译为“IEC62132的第8部分：集成电路的电磁抗干扰度测量-第8部分：辐射抗干扰度的IC带状线方法”。IEC62132是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门用于测量集成电路的电磁抗干扰性能。该标准分为多个部分，每一部分针对特定的测试方法和要求进行详细描述。

IEC62132-8标准主要关注集成电路的辐射抗干扰度性能。辐射抗干扰度是指集成电路在受到外部辐射干扰时，能够保持正常工作的能力。该标准中的IC带状线方法是专门用于测量集成电路带状线电路的辐射抗干扰度的一种测试方法。

具体来说，IC带状线方法是一种模拟集成电路在实际使用环境中受到辐射干扰的测试方法。测试过程中，将集成电路置于特定的辐射环境中，并测量其在不同辐射强度下的工作表现。通过比较不同辐射强度下的工作表现，可以评估集成电路的辐射抗干扰度性能。

IEC62132-8:2012EN-FR是一个针对集成电路辐射抗干扰度测量的标准，其中规定了IC带状线方法的测试方法和要求。该方法适用于评估集成电路带状线电路在现实环境中受到辐射干扰时的性能表现。