【英/法语版】国际标准 IEC 62433-3:2017 EN-FR EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) EMC IC建模 - 第3部分:用于EMI行为模拟的集成电路模型 - 辐射发射建模(ICEM-RE).pdf

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  •   |  2017-01-27 颁布

【英/法语版】国际标准 IEC 62433-3:2017 EN-FR EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) EMC IC建模 - 第3部分:用于EMI行为模拟的集成电路模型 - 辐射发射建模(ICEM-RE).pdf

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IEC62433-3:2017EN-FREMCICmodelling-Part3:ModelsofintegratedcircuitsforEMIbehaviouralsimulation-Radiatedemissionsmodelling(ICEM-RE)是国际电工委员会(IEC)发布的一项标准,专门用于电磁兼容性(EMC)领域中的集成电路(IC)建模。这部分标准主要关注电子设备在电磁干扰(EMI)环境中的行为模拟,特别是辐射发射模型的建立。

这个标准提供了用于模拟集成电路辐射发射行为的模型,即ICEM-RE模型。这个模型可以用于评估电子设备在各种工作条件和环境因素下的电磁辐射特性,包括无线电频率以下(RF)和微波频率以上的辐射。

这个标准中的模型包括了电路的基本元件,如电阻、电容、电感、晶体管等,以及模拟电路中的噪声和干扰。通过这些模型,可以准确地模拟集成电路的辐射特性,从而为设计和优化电子设备提供有价值的指导。

这个标准还提供了关于如何使用ICEM-RE模型进行辐射发射模拟的详细指南,包括模拟设置、输入参数、结果分析和验证等。这些指南可以帮助工程师和设计师更有效地使用这个模型,从而更好地评估和优化电子设备的电磁兼容性。

IEC62433-3:2017EN-FR标准是EMC领域中集成电路辐射发射行为建模的重要参考,它提供了详细的建模方法和指南,帮助工程师和设计师更好地理解和优化电子设备的电磁兼容性。

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