【英/法语版】国际标准 IEC 62369-1:2008 EN-FR 人类在0 GHz至300 GHz频率范围内使用各种应用中的短距离设备时所接触的电磁场评估-第1部分:用于电子物品监控、无线射频识别和类似系统所使用的设备产生的电磁场 Evaluation of human exposure to electromagnetic fields from short range devices (SRDs) in various applications over the frequency rang.pdf
- 4
- 0
- 2024-07-13 发布于四川
-
正版发售
- 现行
- 正在执行有效期
- | 2008-08-28 颁布
- 1、本网站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
- 2、本网站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
- 3、标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题
查看更多
IEC62369-1:2008EN-FR评估在0GHz至300GHz频率范围内各种应用中近距离设备对人类电磁场暴露的影响-第1部分:电子商品检测系统、无线射频识别和类似系统产生的磁场
IEC62369-1:2008是国际电工委员会(IEC)发布的一个标准,用于评估在0GHz至300GHz频率范围内各种应用中近距离设备对人类电磁场暴露的影响。该标准分为多个部分,其中第1部分主要关注用于电子商品检测、无线射频识别和类似系统所产生的电磁场。
该标准旨在为制造商、测试机构和用户提供指导,以确保在各种应用中使用近距离设备时,人类暴露于电磁场不会超过可接受的水平。该标准提供了评估和测量电磁场的方法和要求,包括设备的设计、制造、测试和认证等方面。
在各种应用中,近距离设备包括但不限于电子商品检测系统、无线射频识别系统、无线通信设备、医疗设备等。这些设备在运行过程中会产生电磁场,对人体健康的影响是一个备受关注的问题。因此,该标准对于保护人类健康和安全具有重要意义。
评估方法包括测量电磁场的强度和频率特性,以及考虑设备的使用方式和环境因素。该标准还提供了指南和建议,以帮助制造商和用户采取适当的措施,减少人类暴露于电磁场的风险。
IEC62369-1:2008标准对于保护人类健康和安全具有重要意义,提供了评估和测量电磁场的方法和要求,并提供了指南和建议以帮助制造商和用户采取适当的措施,减少人类暴露于电磁场的风险。
您可能关注的文档
- 国际标准 IEC 62366-1:2015/AMD1:2020 EN-FR Amendment 1 - Medical devices - Part 1: Application of usability engineering to medical devices 第一修正案-医疗设备-第1部分:将可用性工程应用于医疗设备.pdf
- 国际标准 IEC 62366-1:2015+AMD1:2020 CSV EN-FR 医疗设备 - 第1部分:将可用性工程应用于医疗设备 Medical devices - Part 1: Application of usability engineering to medical devices.pdf
- 国际标准 IEC 62366-1:2015+AMD1:2020 CSV EN-FR Medical devices - Part 1: Application of usability engineering to medical devices 医疗设备 - 第1部分:将可用性工程应用于医疗设备.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2014 EN-FR 音频/视频、信息和通信技术设备—第1部分:安全要求 Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2014 EN-FR Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements 音频/视频、信息和通信技术设备—第1部分:安全要求.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2018 EN-FR 音频/视频、信息和通信技术设备-第1部分:安全要求 Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2018 EN-FR Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements 音频/视频、信息和通信技术设备-第1部分:安全要求.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2018 RLV EN 音频/视频、信息和通信技术设备-第1部分:安全要求 Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2018 RLV EN Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements 音频/视频、信息和通信技术设备-第1部分:安全要求.pdf
- 国际标准 IEC 62368-1:2023 EN-FR 音频/视频、信息和通信技术设备 - 第1部分:安全要求 Audio/video, information and communication technology equipment - Part 1: Safety requirements.pdf
- 国际标准 IEC 62369-1:2008 EN-FR Evaluation of human exposure to electromagnetic fields from short range devices (SRDs) in various applications over the frequency range 0 GHz to 300 GHz - Part 1: Fields produced by devices used for electronic article.pdf
- 国际标准 IEC 62372:2006 EN-FR 核仪器 - 安装闪烁器 - 测量光输出和内在分辨率的方法 Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Measurement methods of light output and intrinsic resolution.pdf
- 国际标准 IEC 62372:2006 EN-FR Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Measurement methods of light output and intrinsic resolution 核仪器 - 安装闪烁器 - 测量光输出和内在分辨率的方法.pdf
- 国际标准 IEC 62372:2021 EN 核仪器 - 安装闪烁器 - 发光输出和固有分辨率的测试方法 Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution.pdf
- 国际标准 IEC 62372:2021 EN Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution 核仪器 - 安装闪烁器 - 发光输出和固有分辨率的测试方法.pdf
- 国际标准 IEC 62372:2021 EN-FR 核仪器-装有闪烁体的-光输出和固有分辨率的试验方法 Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution.pdf
- 国际标准 IEC 62372:2021 EN-FR Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution 核仪器-装有闪烁体的-光输出和固有分辨率的试验方法.pdf
- 国际标准 IEC 62373:2006 EN-FR 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).pdf
- 国际标准 IEC 62373:2006 EN-FR Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试.pdf
- 国际标准 IEC 62373-1:2020 EN-FR 半导体器件——金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏压温度稳定性测试(第1部分:快速BTI测试) Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET.pdf
最近下载
- 部队个人防护器材优质教案.doc VIP
- 2025年基于石油企业的价格管理新模式.pdf VIP
- 新教科版(2025版)六年级上册科学全册教案+单元测试卷 .pdf VIP
- 2024-2025新人教版初中数学七年级上册(全册)优秀ppt课件.pptx VIP
- 2025年陕西省综合评标评审专家库考试在线题库及答案.docx VIP
- 《T/CSPSTC 78-2021顶管法管道工程技术规程》.pdf
- 2025年甘肃省公路交通建设集团康略高速公路收费运营人员招聘71人笔试备考试题及答案解析.docx VIP
- 第一单元(核心素养目标教案)-统编版语文五年级上册.docx VIP
- 中考作文指导:中考作文审题课件.pptx
- 2023新能源风电生产指标体系.docx VIP
文档评论(0)