【英/法语版】国际标准 IEC 62496-2-1:2011 EN-FR Optical circuit boards - Part 2-1: Measurements - Optical attenuation and isolation 光学电路板-第2-1部分：测量-光学衰减和隔离.pdf

IEC62496-2-1:2011EN-FR“光学电路板-第2部分1:测量-光学衰减和隔离”是一个关于光学电路板的国际标准，具体描述了在特定环境下，光学衰减和隔离的相关测量方法。

光学衰减通常被定义为光线通过光学材料或组件时的减弱程度，这是由材料对光的吸收和散射引起的。在光学电路板中，衰减可能由电路中的各种元件，如光纤、滤镜、透镜等产生。这个标准详细描述了如何测量这些衰减，包括选择适当的测试光源、确定测试距离、测量入射光和出射光的强度等方法。

光学隔离则描述了两个光学路径之间相互影响的程度。在光学电路板中，两个路径可能是相同或不同的光纤线路，或是上下层之间的电路板线路。这个标准详细描述了如何通过测试信号泄漏来评估这些路径之间的隔离程度。这通常涉及到使用适当的测试设备（如光谱分析仪）以及确定测试信号的频率、功率等参数。

这个标准提供了详细的测量方法和测试规程，对于理解和评估光学电路板的性能至关重要。它也提供了一种方法，可以比较不同制造商的产品，以确保它们满足相同的质量和性能标准。

请注意，这只是对该标准的一个概括性解释，对于具体的测量方法和操作，您可能需要参考该标准的详细部分。