【英语版】国际标准 IEC TR 63357:2022 EN Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles 半导体器件-汽车车辆故障测试方法的标准化路线图.pdf

IECTR63357:2022EN半导体设备-汽车车辆故障测试方法的标准化路线图标准IECTR63357是关于半导体设备的国际标准技术报告（TechnicalReport），其版本号为2022年版本。这个标准提供了半导体设备故障测试方法的标准化路线图，特别是针对汽车车辆的故障测试方法。这个标准对于半导体设备制造商、汽车制造商、测试机构和相关技术人员具有重要的参考价值。该标准详细说明了测试方法的各个方面，包括测试范围、测试目的、测试要求、测试步骤、测试工具和测试标准等。该标准还提供了一些关键技术要求和安全要求，以确保半导体设备在汽车车辆中的安全性和可靠性。IECTR63357:2022EN半导体设备-汽车车辆故障测试方法的标准化路线图标准是一个非常重要的标准，它为半导体设备制造商和汽车制造商提供了重要的参考和指导，以确保汽车车辆中的半导体设备能够安全、可靠地运行。