【英语版】国际标准 IEC TS 62607-3-3:2020 EN Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC) 纳米制造-.pdf

IECTS62607-3-3:2020ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part3-3:Luminescentnanomaterials-Determinationoffluorescencelifetimeofsemiconductorquantumdotsusingtimecorrelatedsinglephotoncounting(TCSPC)标准内容详细解释：

IECTS62607-3-3标准是关于纳米制造的关键控制特性的第3部分，针对发光纳米材料，尤其是关于半导体量子点的荧光寿命测定。这项技术采用时间相关单光子计数法（TCSPC）。以下是对此标准具体内容的详细解释：

1.**荧光寿命**：荧光寿命是指当纳米材料受到光激发时，从发射中心释放光子的时间。这个时间可以用来衡量纳米材料的光学性能，如发光强度和颜色等。

2.**半导体量子点**：半导体量子点是一种由半导体材料制成的纳米尺寸的晶体。它们具有独特的荧光特性，可用于各种应用，如生物标记、显示器和照明等。

3.**时间相关单光子计数法（TCSPC）**：这是一种测量荧光寿命的技术，它使用一个计数器来记录每个光子的时间戳，并测量发射的光子之间的时间间隔。通过这种方法，可以准确地测量荧光寿命，并分析其变化，以评估纳米材料的性能。

4.**关键控制特性**：IECTS62607-3-3标准主要关注纳米材料的关键控制特性，包括荧光寿命、发光强度、颜色、颗粒大小、分散性等。这些特性是评估纳米材料质量、稳定性和应用性能的重要指标。

IECTS62607-3-3标准提供了使用TCSPC测定半导体量子点荧光寿命的方法，以评估纳米材料的性能和质量控制。这种方法对于纳米材料研究和应用具有重要意义。