【英语版】国际标准 IEC TS 62607-6-8:2023 EN 纳米制造关键控制特性第六部分八：石墨烯片电阻：在线四点探针法 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-8: Graphene - Sheet resistance: In-line four-point probe.pdf

IECTS62607-6-8:2023ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-8:Graphene-Sheetresistance:In-linefour-pointprobe是国际电工委员会（IEC）发布的一项标准，专门针对石墨烯材料的片电阻进行测量和控制的关键特性进行了规定。

该标准详细说明了以下内容：

1.适用范围：该标准适用于石墨烯材料的片电阻的测量和控制，特别是在纳米制造领域。

2.定义和术语：标准中列出了与石墨烯片电阻相关的术语和定义，以确保在使用过程中有一个统一的术语体系。

3.测量原理：该标准详细介绍了使用在线四点探针（In-linefour-pointprobe）测量石墨烯片电阻的方法。这种方法通过测量两个固定电极之间的电阻来计算石墨烯片的电阻。

4.测量设备：标准中列出了用于测量石墨烯片电阻的设备，包括四点探针、电源、电流和电压测量装置等。

5.测量过程：标准详细描述了测量石墨烯片电阻的步骤和注意事项，以确保测量的准确性和可靠性。

6.结果解释：标准中说明了如何解读和使用测量结果，以确保石墨烯片的性能得到准确评估。

7.质量控制：该标准强调了质量控制的重要性，并提供了用于确保石墨烯片电阻测量准确性的建议和措施。

IECTS62607-6-8:2023ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-8:Graphene-Sheetresistance:In-linefour-pointprobe标准规定了石墨烯材料片电阻测量的关键特性和过程，以确保在纳米制造领域中的准确评估和控制。