【英语版】国际标准 ISO 11505:2012 EN Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry 表面化学分析 利用辉光放电光学发射光谱法进行定量成分深度剖面分析的一般程序.pdf

ISO11505:2012EN是关于表面化学分析的标准，该标准主要涉及通过辉光放电光学发射光谱法进行定量成分深度剖面的分析。这个标准对分析过程中使用的通用程序进行了详细的规定和描述。

我们需要了解什么是辉光放电光学发射光谱法。这是一种用于测量材料表面和内部元素组成和含量的技术。在这种方法中，当材料被电离并暴露在惰性气体（如氩气）中时，会产生辉光放电现象。通过观察和分析放电区域的元素发射光谱，可以确定材料中的元素种类和含量。

在ISO11505:2012EN中，详细说明了定量成分深度剖面的分析过程。具体来说，它描述了如何准备样品，如何进行表面处理以去除表面的污染层，如何设置仪器以进行辉光放电光学发射光谱分析，以及如何解读和分析结果。该标准还提供了关于如何选择和分析样品表面的不同区域以及如何处理数据以确保准确性和可靠性的建议。

ISO11505:2012EN是一个非常重要的标准，它为定量成分深度剖面分析提供了详细的指南和规范，以确保分析结果的准确性和可靠性。这些信息对于理解材料表面的化学成分以及评估其性能和潜在应用非常重要。