【英语版】国际标准 ISO 18452:2005 EN Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer 精密陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷） 用接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度.pdf

ISO18452:2005是关于高级陶瓷和高级技术陶瓷材料的细陶瓷的厚度测定的标准。这里我们重点解释一下关于陶瓷薄膜厚度测定的部分。

我们要了解什么是接触式探针轮廓仪。这是一种测量设备，用于通过探针测量表面微观轮廓的工具。它可以用来精确地测量物体表面的微观结构，包括薄膜的厚度。

通过接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度，具体步骤如下：

1.准备仪器和样品：你需要准备一台功能正常的接触式探针轮廓仪，并选择适当的探针。你需要准备一个适当的样品，通常是一个薄膜材料。

2.安装样品：将样品安装到轮廓仪上，确保样品表面与轮廓仪的探针接触良好。

3.校准仪器：使用轮廓仪的校准功能，确保仪器能够正确地测量样品表面的微观结构。

4.测量厚度：使用轮廓仪的测量功能，对样品表面的陶瓷薄膜进行测量。轮廓仪会记录下薄膜的高度信息，这些信息将被用来计算薄膜的厚度。

5.结果分析：根据轮廓仪提供的数据，可以计算出陶瓷薄膜的厚度。还可以分析其他与薄膜相关的参数，如平整度、粗糙度等。

需要注意的是，使用接触式探针轮廓仪进行陶瓷薄膜厚度测定的过程中，需要注意一些关键点，如确保探针与样品表面的接触良好、避免探针划伤样品表面、选择适当的校准参数等。同时，还需要注意环境条件对测量结果的影响，如温度、湿度等。

总结来说，ISO18452:2005标准为通过接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜厚度提供了详细的指南和要求，这对于细陶瓷和高级技术陶瓷材料的研究和生产具有重要意义。