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AN_如何提高ADC采样精度_Rev1.0.pdfVIP

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32位微控制器

如何提高ADC采样精度

应用笔记

Rev1.02023年11月

适用对象

产品系列产品型号

HC32A/F/L/M所有型号

应用笔记2/17

声明

★小华半导体有限公司(以下简称:“XHSC”)保留随时更改、更正、增强、修改小华半导体产品和/或本

文档的权利,恕不另行通知。用户可在下单前获取最新相关信息。XHSC产品依据购销基本合同中载明

的销售条款和条件进行销售。

★客户应针对您的应用选择合适的XHSC产品,并设计、验证和测试您的应用,以确保您的应用满足相应

标准以及任何安全、安保或其它要求。客户应对此独自承担全部责任。

★XHSC在此确认未以明示或暗示方式授予任何知识产权许可。

★XHSC产品的转售,若其条款与此处规定不同,XHSC对此类产品的任何保修承诺无效。

★任何带有“®”或“™”标识的图形或字样是XHSC的商标。所有其他在XHSC产品上显示的产品或服务名

称均为其各自所有者的财产。

★本通知中的信息取代并替换先前版本中的信息。

©2023小华半导体有限公司保留所有权利

应用笔记3/17

目录

适用对象2

声明3

目录4

1概述5

2SARADC简介6

2.1SARADC原理6

2.2SARADC固有误差7

3ADC外部误差来源及解决办法8

3.1参考源8

3.1.1参考源电压范围8

3.1.2参考源精度9

3.1.3参考源噪声9

3.2电源噪声10

3.3ADC的输入阻抗与采样时间11

3.4输入信号14

3.5IO串扰15

3.6软件方式提高精度15

4总结16

版本修订记录17

应用笔记4/17

1概述

HC32A/F/L/M系列产品是小华半导体基于ARMcortex内核推出的MCU,每款MCU均内置1~3个逐

次比较数模转换单元(SARADC)。每个单元可支持8~16个外部引脚输入通道或特定的内部电压、温

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