【英语版】国际标准 ISO 24173:2024 EN 微束分析——使用电子背散射衍射进行取向测量的指南 Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction.pdf

ISO24173:2024EN《微束分析-使用电子背散射衍射进行取向测量的指南》是一份关于微束分析的标准，特别是关于使用电子背散射衍射进行取向测量的指南。该标准详细介绍了微束分析的原理、操作步骤、实验设计、数据处理和分析等方面的内容。它为研究人员、工程师和学者在进行微束分析时提供了实用的指导，以确保测量结果的准确性和可靠性。该标准的主要目标是促进微束分析技术的标准化和规范化，从而推动相关领域的研究和发展。

微束分析是一种精密的分析技术，通常用于研究材料的微观结构和性能。它使用极小的光束（通常在微米级别）对材料进行扫描和分析，以获取有关材料晶体结构、相组成、晶粒大小、织构等微观信息。电子背散射衍射（EBSD）是微束分析的一种重要方法，用于测量材料的取向和织构。该方法通过分析电子在样品中的散射模式，来确定材料中不同晶面的取向关系。

在使用EBSD进行取向测量时，该标准提供了详细的指导，包括样品准备、实验设置、数据采集和处理等方面的步骤。它还涉及了实验设计、样品选择、测试条件、误差分析等方面的考虑因素，以确保实验结果的准确性和可靠性。该标准还强调了实验的安全性和环保性，提供了一些关于实验操作和废物处理的建议。

ISO24173:2024EN《微束分析-使用电子背散射衍射进行取向测量的指南》为进行微束分析的科学家、工程师和学者提供了一套全面的指导原则，以帮助他们在进行研究和技术开发时能够更有效地使用EBSD进行取向测量。