【英语版】国际标准 ISO 25498:2018 EN 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选定区域电子衍射分析 Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.pdf

ISO25498:2018标准，也称为“微束分析-分析型电子显微镜-使用透射电子显微镜的选定区域衍射分析”是关于微束分析，特别是电子显微镜分析的标准。它涵盖了使用透射电子显微镜进行选定区域衍射分析（SAEDA）的详细过程和方法。

在SAEDA中，电子束被聚焦到样品的一个特定区域，然后电子束的散射被收集和分析以产生该区域的衍射图像。这个过程可以提供关于样品中晶体结构和相的信息。

这个标准详细说明了实验步骤，包括样品准备、电子显微镜设置、电子束定位、衍射模式选择、数据收集和分析等。它也涵盖了与实验相关的各种问题，如样品选择、样品制备技术、电子束控制、数据解读等。

该标准还提供了关于如何处理和分析SAED数据的信息，包括如何解析衍射图案以获得晶体结构和相的信息，以及如何解释结果。

ISO25498:2018标准为使用透射电子显微镜进行选定区域衍射分析提供了详细的指南和信息，对于那些在材料科学、化学、生物学、医学和其他领域进行电子显微镜研究的人来说，这个标准是非常有用的。