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电子产品用高纯石英砂SJ/T3228.1-2016——第1部分:技术条件
中华人民共和国电子行业标准《电子产品用高纯石英砂》第1部分——技术条件
标准编号:SJ/T3228.1-2016
标准状态:现行有效
本标准由中华人民共和国工业和信息化部2016年1月15日发布,2016年6月1是开始实施。
前言
本系列标准计划分下列部分出版:
——SJ/T3228.1
电子产品用高纯石英砂第1部分技术条件;
——SJ/T3228.2
电子产品用高纯石英砂第2部分分析方法通则;
——SJ/T3228.3
电子产品用高纯石英砂第3部分灼烧失量的测定;
——SJ/T3228.4
电子产品用高纯石英砂第4部分二氧化硅的测定;
——SJ/T3228.5
电子产品用高纯石英砂
第5部分铁的测定;
——SJ/T3228.6
电子产品用高纯石英砂
第6部分铜的测定;
——SJ/T3228.7
电子产品用高纯石英砂
第7部分铬的测定;
——SJ/T3228.8
电子产品用高纯石英砂
第8部分铝的测定;
——SJ/T3228.10电子产品用高纯石英砂第10部分铅的测定。
本部分为第1部分。
本部分按照GB/T1.1-2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写》给出的规则编写。
本部分代替SJ3228.1-1989。
本部分与SJ3228.1-1989相比,主要技术内容变化如下:
a)增加了引用文件:GB/T6682《分析实验室用水规格和试验方法》、GB/T602《化学试剂杂质测定用标准溶液的准备》、SJ/T10380-2012《工业用酸洗石英砂》、GB/T32650《电感耦合等离子质谱法检测石英砂中痕量元素》、GB/T8946《塑料编织袋》、GB/T8947《复合塑料编织袋》;
b)修改了产品分级,将原来的二个等级修改为三个等级;
c)修改了粒度范围;
d)杂质含量要求中增加了元素铝、钙、钠、钾、锂、镁、铬、镍、硼、锰含量项目,删除了铅含量、氯含量、
灼烧失重,并修改了原有杂质元素含量技术指标;
e)增加了附录A《石墨炉原子吸收光谱法测定杂质元素含量》;
f)调整了检验规则和标志、包装、运输、贮存的相关要求。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。本部分起草单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、东海县产品质量监督检验所。
本部分主要起草人:李运强、程尚栩、许振午、栾振祥、薄雷明、李建德、冯亚彬、管琪。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:——SJ3228.1-1989。
1范围
本部分规定了电子产品用高纯石英砂的技术要求、检验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存等。
本部分适用于电子产品用高纯石英砂,可用于制造半导体石英器件的管、棒、块、板、片以及坩埚等器件。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T8946塑料编织袋
GB/T8947复合塑料编织袋
GB/T32650电感耦合等离子质谱法检测石英砂中痕量元素
SJ/T3328.4
电子产品用高纯石英砂第4部分二氧化硅的测定
SJ/T3328.5
电子产品用高纯石英砂第5部分铁的测定
SJ/T3328.6
电子产品用高纯石英砂第6部分铜的测定
SJ/T3328.7
电子产品用高纯石英砂第7部分铬的测定
SJ/T3328.8
电子产品用高纯石英砂第8部分铝的测定
SJ/T3328.10电子产品用高纯石英砂第10部分铅的测定
SJ/T10380工业用酸洗石英砂
3技术要求
3.1外观
电子产品用高纯石英砂为具有一定透明度的白色颗粒,应无异色、肉眼可见的杂质。
3.2二氧化硅含量
二氧化硅含量应符合表1规定。
表1二氧化硅含量
项目
指标
一级
二级
三级
二氧化硅
≥99.9991%
≥99.9990%
≥99.9980%
3.3粒度
粒径应在70μm~350μm范围内。
3.4杂质元素含量
杂质元素含量应符合表2规定。
表2杂质元素含量
杂质元素
允许含量
一级
二级
三级
铝(Al)
≤8.00
≤8.00
≤16.00
钙(Ca)
≤0.5
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