芯片测试异常处理流程.pptx

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芯片测试异常处理流程

目录01测试前准备02芯片功能测试03异常分析04问题解决05验证与确认06流程优化

测试前准备01

异常预防措施01确保测试环境的稳定性和可靠性，避免因环境因素导致的异常。测试环境检查02在测试前对测试设备进行校准，保证测量数据的准确性，防止因设备误差引发的问题。设备校准03根据历史数据和常见问题，制定预防措施，提前预防可能出现的芯片测试异常。制定预防方案

测试设备校准设备检查在测试前，确保所有芯片测试设备都经过了最新的校准，以保证测试结果的准确性和可靠性。校准记录验证检查并验证每台设备的校准记录，确认它们在有效期内，且符合行业标准和规范。环境条件确认确认测试环境的温度

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