【英语版】国际标准 IEC PAS 62162:2000 EN 微电子组件静电放电耐受阈值的磁场诱导有源器件模型测试方法 Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components.pdf

IECPAS62162:2000EN“Field-inducedCharged-devicemodeltestmethodforelectrostaticdischargewithstandthresholdsofmicroelectroniccomponents”是一个标准，用于评估电子设备的抗静电能力，尤其是其过电压和过电流的防护能力。这个标准主要关注微电子组件在电场中可能受到的电荷影响，以及这些电荷如何影响设备的性能和安全性。这个标准提供了一种测试方法，用于确定微电子组件在受到静电放电（ESD）时的承受阈值。静电放电是一种常见的电子设备损坏原因，特别是在高电压和高电流的环境中。IECPAS62162:2000EN提供了一种评估设备对这些潜在危害的抵抗能力的机制。这种方法基于“设备充电设备模型”，该模型考虑了电场中设备受到的电荷分布，以及这些电荷如何影响设备的电气性能。这种方法可以提供关于设备在特定电场条件下的电荷承受能力和电气性能的关键信息。为了符合这个标准，设备制造商需要开发并实施一种特定的测试程序，以评估他们的产品在模拟静电放电条件下的性能。IECPAS62162:2000EN标准是电子设备制造商在设计、生产和质量控制过程中一个重要的参考标准，以确保他们的产品能够承受静电放电的潜在危害，从而确保产品的安全性和可靠性。