【英语版】国际标准 ISO 14999-4:2007 EN 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分：ISO 10110 中规定的公差的解释和评估 Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110.pdf

ISO14999-4:2007ENOpticsandphotonics—Interferometricmeasurementofopticalelementsandopticalsystems—Part4:InterpretationandevaluationoftolerancesspecifiedinISO10110是一个关于光学和光子学中光学元件和光学系统干涉测量的标准。它详细规定了干涉测量中光学元件和光学系统的公差解释和评估方法。

以下是对ISO14999-4:2007EN的详细解释：

ISO14999是一个系列的标准，旨在为光学和光子学中的测量提供一致和可重复的方法。该系列标准包括ISO14999-1到ISO14999-7六个部分，分别涵盖了不同方面的光学和光子学测量。

ISO14999-4是关于干涉测量的部分，主要涉及到光学元件和光学系统的测量。干涉测量是一种使用干涉仪来测量光学元件和系统的技术，它具有高精度和高灵敏度，可以用于测量微小的尺寸和形状变化。

Part4:InterpretationandevaluationoftolerancesspecifiedinISO10110这部分主要解释和评估ISO10110中指定的公差。ISO10110是一个关于光学元件和系统几何公差的标准，它规定了用于评估光学元件和系统性能的几何公差要求。

在ISO14999-4中，对于干涉测量的结果，需要按照ISO10110中规定的公差要求进行评估。这包括确定测量结果是否在公差范围内，以及公差范围是否符合系统的性能要求。如果测量结果超出了公差范围，可能需要采取额外的措施来纠正误差或进行进一步的分析。

ISO14999-4:2007EN提供了干涉测量中光学元件和光学系统公差解释和评估的详细指南，以确保测量结果的准确性和可靠性，从而满足光学系统性能的要求。