【英语版】国际标准 ISO 19318:2004 EN 表面化学分析 X 射线光电子能谱 报告电荷控制和电荷校正所用的方法 Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction.pdf

ISO19318:2004EN表面化学分析—X射线光电子光谱—用于电荷控制和电荷校正的方法的报告详细解释：

ISO19318:2004是一个关于表面化学分析的国际标准，特别关注X射线光电子光谱（XPS）。此标准详细说明了在XPS分析中如何报告用于电荷控制和电荷校正的方法。

1.**电荷控制**：电荷控制是指在电子显微镜（EM）或类似的设备中，当电子束照射样品时，由于电子与样品相互作用产生的二次电子、阳极射线等可能影响仪器性能，从而影响图像质量。电荷控制的目标是减少这些影响，通常通过各种方式实现，如优化束流强度、选择适当的样品材料、使用电荷消除技术等。

2.**电荷校正**：电荷校正是指对由于电荷积累在样品表面而产生的误差进行修正。在XPS分析中，样品表面会不断积累电荷，这会影响电子发射和光谱分析的结果。电荷校正通常涉及测量和补偿样品表面的电荷变化，以获得更准确的结果。

报告这些方法的目的在于提供给使用者清晰、准确的信息，以便他们了解在他们的特定分析条件下如何最佳地进行电荷控制和电荷校正。报告应包括所采用的技术、实施步骤、所需设备、优缺点等详细信息。

以上就是ISO19318:2004EN中关于表面化学分析—X射线光电子光谱—用于电荷控制和电荷校正的方法的报告的详细解释。