【英语版】国际标准 ISO 18115-2:2010 EN 表面化学分析 词汇表 第2部分：扫描探针显微镜使用的术语 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy.pdf

ISO18115-2:2010EN表面化学分析—词汇—第2部分：扫描探针显微镜中使用的术语

ISO18115-2:2010EN标准是关于表面化学分析的词汇的规范，具体涉及到扫描探针显微镜（SPM）中的相关术语。该标准对扫描探针显微镜技术的基础原理、各种扫描模式、各种实验条件、测量方法、数据处理等进行了详细描述，并为分析人员提供了有关表面化学性质的信息。

以下是对该标准中主要术语的详细解释：

1.扫描探针显微镜（SPM）：这是一种精密仪器，能够通过操纵微小的探针与样品表面进行接触，从而产生微小的位移和形变，以获取样品表面的微观信息。

2.扫描模式：包括连续扫描、步进扫描、动态扫描等模式，每种模式都有其特定的操作方式和应用范围。

3.原子力显微镜（AFM）：这是一种常见的扫描模式，通过测量探针与样品表面之间的相互作用力（原子力）来获取样品表面的微观结构信息。

4.扫描隧道显微镜（STM）：这是一种基于量子力学的扫描模式，通过隧道电流的变化来获取样品表面的微观结构信息。

5.探针：用于与样品表面接触的微小物体，通常由一个或多个原子组成。根据不同的应用和实验条件，探针可以是金属、半导体、玻璃等材料。

6.实验条件：包括温度、压力、真空度、电场、磁场等环境因素，以及样品制备方法、探针清洁度、扫描速度等操作因素，都会影响实验结果。

7.测量方法：包括接触法、悬空法、非接触法等，每种方法都有其特定的操作方式和使用范围。

8.数据处理：对扫描结果进行解读和分析的过程，包括图像处理、特征提取、统计分析等步骤，以便从数据中获取有用的信息。

ISO18115-2:2010EN标准为扫描探针显微镜的研究和应用提供了重要的词汇和理论基础，对于理解表面化学性质和相关应用具有重要意义。