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SJ21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法.pdfVIP

SJ21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法.pdf

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    中华人民共和国电子行业标准

    FL6100SJ21347-2018

    低温器件与组件极低温度筛选试验方法

    Cryogenicscreeningtestmethodforcryogenicdeviceandassembly

    2018-01-18发布

    2018一05一01实施

    国家国防科技工业局发布

    SJ21347-2018

    目lj

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    SJ21347-2018

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