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技术说明
NOR闪存循环耐久性和数据保持
介绍
NOR闪存会发生物理退化，从而导致器件故障。因此，客户经常问美光的NOR器件将保持数据多长时间；这个问题可以通过器件测试来回答。本技术说明定义了此测试的行业标准、美光的NORFlash测试方法以及用于测量NOR器件故障的两个关键指标：循环耐久性和数据保持率。它还概述了两个案例研究，测试了使用美光NOR闪存器件的应用程序的不同耐久性和数据保持要求。
循环耐久性和数据保持测试方法
行业标准测试方法
Micron使用当前的JEDEC全球标准来测试闪存器件。（JESD47I规范是发布时的最新版本。）
表1:JESD47I器件鉴定测试
重要性
参考
缩写
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