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IGBT的驱动特性及功率计算

陈暹辉

深圳裕能达电气有限公司

摘要：根据目前市场的使用情况，介绍IGBT的驱动特性及不同功率计算。

关键词：开通损耗关断损耗栅极电阻导通压降短路时间

1IGBT的驱动特性

1.1驱动特性的主要影响因素

IGBT的驱动条件与IGBT的特性密切相关。设计栅极驱动电路时，应特别注意开通特性、负载短路能力和dv/dt引起的误触发等问题。栅极电压Uge增加（应注意Uge过高而损坏IGBT），则通态电压下降（Eon也下降），如图1所示(此处以200AIGBT为例)。由图1中可看出，若Uge固定不变时，导通电压将随集电极电流增大而增高，如图1?a，电流容量将随结温升高而减少（NPT工艺正温度特性的体现）如图1b所示。

（a）Uge与Uce和Ic的关系（b）Uge与Ic和Tvj的关系

图1栅极电压Uge与Uce和Tvj的关系

栅极电压Uge直接影响IGBT的可靠运行，栅极电压增高时有利于减小IGBT的开通损耗和导通损耗，但同时将使IGBT能承受的短路时间变短（10μs以下），使续流二极管反向恢复过电压增大，所以务必控制好栅极电压的变化范围，一般Vge可选择在-10～+15V之间，关断电压-10V,开通电压+15V。开关时Uge与Ig的关系曲线见图2a和图2b所示。

栅极电阻Rg?增加，将使IGBT的开通与关断时间增加，使开通与关断能耗均增加,但同时，可以使续流二极管的反恢复过电压减小，同时减少EMI的影响。而门极电阻减少，则又使di/dt增大，可能引发IGBT误导通，但是，当Rg减少时，可

(a)开通时(b)关断时

图2开关时Uge与Ig的关系曲线

以使得IGBT关断时由du/dt所带来误触发的可能性减小，同时也可以提高IGBT承受短路能量的能力,所以Rg大小各有好坏，客户可根据自己设计特点选择。图3为Rg大小对开关特性的影响，损耗关系请参照图4所示。

图3Rg大小对开关特性的影响（di/dt大小不同）

图4门极电阻Rg与Eon/Eoff

由上述可得：IGBT的特性随门极驱动条件的变化而变化，就象双极型晶体管的开关特性和安全工作区随基极驱动而变化一样。但是IGBT所有特性难以同时最佳化，根据不同应用，在参数设定时进行评估，找到最佳折冲点。

双极型晶体管的开关特性随基极驱动条件而变化，然而，对于?IGBT来说，正如图1～图3所示，门极驱动条件仅对其开关特性有较大影响，因此，对于其导通特性来讲，我们应将更多的注意力放在IGBT的开通、短路负载容量上。

1.2驱动电路设计与结构布局

l）从结构原理上讲，IGBT的开通特性同MOSFET，而输出特性同BJT，等效于MOSFET+BJT，因此?IGBT与?MOSFET都是电压驱动，都具有一个阈值电压，有一个容性输入阻抗，因此IGBT对栅极电荷非常敏感故驱动电路必须很可靠，要保证有一条低阻抗值的放电回路，即驱动电路与IGBT的连线要尽量短。

2）用内阻小的驱动源对栅极电容充放电，以保证栅极控制电压Uge,有足够陡的前后沿，使IGBT的开关损耗尽量小。另外，IGBT开通后，栅极驱动源应能提供足够的功率，使IGBT之双极晶体管BJT始终工作在饱和区。

3）驱动电压Uge的选择可参考图1，注意其大小的影响，若Uge选大了，则?IGBT通态压降和开通损耗均下降，但负载短路时的Ic增大，IGBT能承受短路电流的时间减小，对其安全不利，因此在有短路工作过程的设备中Uge应选得小些，通常12～15V比较合适。

4）驱动信号传输线路设计要考虑器件延迟，特别是光耦，注意传输比选择。

5）在关断过程中，为尽快抽取IGBT输入电容（Cies）上的存储电荷，须施加一负偏压Uge,??但它的大小受IGBT的G，E间最大反向耐压限制，一般取-10V为宜。

?6）在大电感负载下，IGBT的开关时间不能太短，以限制出di/dt形成的尖峰电压，设计正确的过流保护电路，确保IGBT的安全。

?7）注意两种隔离：强、弱电之间的隔离（信号共地问题）和输入、输出信号之间的隔离（采用变压器/光耦等），最好自身带有对IGBT的保护功能，有较强的抗干扰能力。

8）针对大功率IGBT，可考虑增加推挽对管（如目前通用的MJD44H11/45H11）放大驱动功率,或者选用比较流行的瑞士CT-CONCEPT专用大功率驱动产品如2SD315-等。

2IGBT的功率损耗计算（硬开关情况）

2.1动态损耗

1）IGBT开关损耗：

PIGBT=fsw·(Eon+Eoff)·Is/Inom

其中，fsw=IGB