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芯片缺陷识别算法研究的基本理论
摘要
在芯片生产加工过程中，芯片缺陷检测环节对于保证其出厂质量问题尤其重要。芯片中有缺陷的产品必须要做到精准的检测出来，以确保芯片出厂时的良品率。
其中芯片缺陷检测通常是指对各类芯片的表面以及焊接的焊点等进行是否有缺陷的检测。目前多采用机器视觉的缺陷检测技术，该技术通常可以对已出厂的芯片的形状、位置、大小、色差、缺损等缺陷进行检测。虽然目前大多数生产线是全自动化的，但是在质量控制过程中某些领域依然使用人工检测和专家评估的方法进行芯片检测的评估。当前国内外对芯片进行缺陷检测的研究，主要是对基于机器视觉的图像处理技术和特征
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