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实验3.3.1偏振光的研究
学号：p
：
实验题目：偏振光的研究
实验目的：
利用光的偏振现象在学方面可测量材料的厚度和折射率，可以了解材料的微观结构。
实验仪器：
激光器、起偏器、检偏器、硅光电池、光电流放大器；
实验原理：
我们的先人在很早就已经对水平面的反射光有所研究，人们发现反射光中的垂直于入射
面的光振动多于平行于入射面的光振动；而透射光好相反。在改变入射角的时候，出现
了一个特殊的现象，即入射角为一特定值时，反射光成为完全线偏振光，折射光为部分偏振
光，而且此时的反射光线和折射光线垂直，该现象最早在1815年为布儒斯特所发现，我们
称之为布儒斯特定律。该方法是可以获得线偏振光的方法之一；不过反射光由于强度较小，
通常不被利用；透射光的光强较大，但又不是完全线偏振光，实际采用的是利用玻璃堆的方
法就成功的解决了该问题，多次的透射基本上可以滤掉竖直分量，最后只剩下了平行分量。
若n1为空气，则tgi0=n2，这样，当介质折射率一定时，i0就唯一地被确定。
常见的起偏或检偏的元件构成有两种：
1.光学棱镜。如尼科耳棱镜、格兰棱镜等，它是利用光学双折射的原理制成的；
2.偏振片。它是利用聚乙烯醇塑胶膜制成，它具有梳状长链形结构分子，这些分子平行排列
在同一方向上，此时胶膜只允许垂直于排列方向的光振动通过，因而产生线偏振光.
定律：在1809年发现，完全线偏振光通过检偏器后的光强可表示为I1=I0
cos2α，其中的α是检偏器的偏振方向和入射线偏振光的光矢量振动方向的夹角
本次实验中我们用两块格兰棱镜充当起偏器和检偏器，通过硅光电池的响应电流检测偏
光强度的方法来验证定律。
波晶片：又称位相延迟片，是从单轴晶体中切割下来的平行平面板，由于波晶片内的速
度vo,ve不同，所以造成o光和e光通过波晶片的光程也不同.当两光束通过波晶片后o光
的位相相对于e光多延迟了Δ=2π(n0-n1)d/λ，若满足(ne-no)d=±λ/4，即Δ=±π/2我们称之为
λ/4片，若满足(ne-no)d=±λ/2，即Δ=±π，我们称之为λ/2片，若满足(ne-no)d=±λ，即Δ=2π我
们称之为全波片。
实验重点、难点：
1.理解偏振光的本质，学会几种偏振光的鉴别。
2.光路的准直调整和光电探头的电流溢出问题。
数据处理及结论：
1、计算偏振度P：
单位为10−7A
I=1225I=54I=1228I=56
Max1Min1Max2Min2
由以上实验数据，
IMax1+IMax21225+1228−7
IMax===1226.5×10A；
22
IMin1+IMin254+56−7
IMin===55×10A；
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