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GIS设备SF6漏气处理:

前言

全封闭组合电器采用SF6气体作为绝缘和灭弧介质,各电器元件都

是标准的独立结构。组合元件包括：断路器、隔离开关、接地开关、

电流互感器、电压互感器、快速接地开关、避雷器、母线、出线套管、

电缆头等组成。SF6气体是世界上目前最优良的绝缘介质和灭弧介质。

所以具有占地少、性能可靠、检修周期长等优点,己被国内外广泛采

用。由于绝缘和灭弧介质是用SF6气体,而SF6气体容易受水分影响,

微水升高后SF6气体绝缘灭弧性能迅速下降,对设备的安全运行影响

较大,而我局大量采用了GIS设备,总用气量较大。因此对SF6水份及

密封的管理非常重要。气体管理得好,设备运行可靠性就高。根据我

局设备运行状况及自己多年的工作实践经验，谈谈SF6气体漏气产生

的原因、危害性、水分产生的原因、漏气点查找、处理的方法。

一SF6气体漏气的产生的原因：

1制造厂制造的设备精度不够，外壳上有砂眼，密封材料质量欠佳

造成的漏气。

2设备在现场安装质量不高，或大修大拆后密封面处理不到位造成

漏气。

3由于设备在运行中产生的振动，如开关分合，变压器运行中振动，

密封材料老化等原因产生的漏气。

二SF6气体漏气的危害性：

1．SF6气体漏气造成设备内的气体压力下降,为了保证设备的正常

运行，需定期进行补充SF6气体工作,在增加了工作量同时将水份带

入设备内,造成设备内微水值上升。微水严重超标将危害绝缘，影响

灭弧，并产生有毒物质。当水份较高时，很容易在绝缘材料表面结露，

造成绝缘下降，严重时发生闪络击穿。含水量较高的气体在电弧作用

下被分解，SF6气体与水分产生多种水解反应，产生WO3(三氧化钨)、

CuF2(氟化铜)、WOF4（四氟化钨）等粉末状绝缘物，其中CuF2有强

裂的吸湿性，附在绝缘表面，使沿面闪络电压下降，HF、H2SO3等具

有强裂腐蚀性，对固体有机材料和金属有腐蚀作用，缩短了设备寿命。

含水量较高的气体，在电弧作用下产生很多化合物，影响SF6气体的

纯度，减少SF6气体介质复原数量，还有一些物质阻碍分解物还原，

灭弧能力将会受影响。含水量较高的气体在电弧作用下分解成化合物

WO2(二氧化钨)、SOF4(、SO2F2(、SOF2(、SO2

四氟化硫酰)氟化硫酰)氟化亚硫酰)

(二氧化硫)等，这些化合物均为有毒有害物质，而SOF2、SO2的含量会

随水分增加而增加，直接威胁人身健康，因此对SF6气体的含水量必

须严格监督和控制。

2．由于漏气需补充SF6气体,SF6气体比较昂贵造成大量维护费

用上升。气体泄漏还影响周围的环境质量。

三SF6气体中水分的由来：

a、SF6气体本身的水分（用经微水试验合格的气体标准为不大于6

4PPm（v））。

b、产品零部件（尤其是绝缘件）中吸咐的水分（装配、清理、回

装时要尽量的抽出水分,如烘用塑料纸包扎好用酒精,丙酮擦洗）。

c、产品安装时从大气中带入的水分（同上）。

d、充气时,充放气通过回收装置,管道及其它进入水分,（按规定进

行抽真空,定期更换回收装置内的吸附剂充放气工作应在湿度小于8

0％进行）。

e、设备运行中产生由于密封不良,通过密封圈向设备内渗入水分。

运行中虽然内部气压高于大气压,就水分说,外部的水分压比内部要

大得多.若外界气温更高,湿度更大,则内外水分压更大,水分更容易

进入内部。由上可以得出设备漏气是水分增大的主要原因。因此在检

修中应严格检查密封圈质量、严格按工艺要求涂密封胶、放置密封圈、

严格按力矩要求紧固螺栓。

四SF6气体漏气点的查找方法：

1运行中设备判断：

（1）在日常的设备巡回中，发现某一气隔或气室的气体

压力在同一环境温度下与原来的记录相比较压力值下降，可以判定有

泄漏气现象。

（2）某一气隔或气室最近发生补充气体工作，如半年或

三个月需补充一次。因为SF6气体设备年漏气量不充许大于l％。

（3）在做微水值测定分析中，若发现微水值超标也可判

断此气隔或气室有泄漏现象。标准

产生电弧的气室：交接