《GBT 43034.3-2023集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法》最新解读.pptx

《GB/T43034.3-2023集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法》最新解读;目录;目录;目录;目录;目录;目录;PART;集成电路脉冲抗扰度的重要性;;PART;;PART;标准背景

GB/T43034.3-2023是中国国家标准，旨在规范集成电路（IC）对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。这一标准的发布与实施，对于提升我国集成电路产品的电磁兼容性能具有重要意义。

标准范围

该标准详细规定了集成电路在面临与受试器件（DUT）运行不同步的骚扰时，如何通过耦合网络施加给IC引脚，并测量其对这类骚扰的抗扰度。无论骚扰是否在IC规定的工作电压范围内，标准都提供了相应的测量方法和性能降级分类方法。;新标准GB/T43034.3-2023概览;PART;传导干扰

传导干扰是指通过导线、电源线、接地线等直接传导的电磁干扰。在集成电路系统中，电源线、信号线等可能成为电磁干扰的传输路径。高频信号或瞬态电压通过这些路径传导到集成电路内部，可能导致信号失真、时序错乱甚至电路损坏。

辐射干扰

辐射干扰则是由电磁波在空间传播引起的。在集成电路及其周围环境中，各种电子设备、天线、传输线等都可能成为辐射源。辐射干扰通过空间传播，对集成电路产生干扰，影响其正常工作。特别是在高频段，辐射干扰的问题尤为突出。;集成电路面临的电磁干扰挑战;PART;定义与目的

脉冲抗扰度测量是评估集成电路（IC）在受到瞬态电磁脉冲干扰时，保持其正常功能和性能的能力。其目的在于确保IC在各种电磁环境下能够稳定可靠地工作，避免因外部电磁脉冲干扰导致的性能降级或故障。

非同步瞬态注入法

作为GB/T43034.3-2023标准的第3部分，非同步瞬态注入法是一种特殊的测试方法，通过耦合网络向IC引脚施加与受试器件（DUT）运行不同步的骚扰信号。这种测试方法模拟了实际使用中可能遇到的非同步瞬态电磁脉冲干扰，从而更全面地评估IC的抗扰度性能。;;PART;;PART;集成电路电磁兼容性的测试要求;;;分类记录不同骚扰条件下的测试结果，以便后续分析和改进。;集成电路电磁兼容性的测试要求;;集成电路电磁兼容性的测试要求;对测试结果进行分析和评估，提出改进建议并验证改进效果。;;;PART;测量??理

非同步瞬态注入法是一种评估集成电路（IC）对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。该方法通过在受试器件（DUT）运行不同步的条件下，通过耦合网络向IC引脚施加骚扰信号，以模拟实际工作环境中的电磁干扰。;如何进行非同步瞬态注入测量;监测性能变化;确保测试环境稳定：在进行非同步瞬态注入测量时，应确保测试环境稳定可靠，避免其他因素对测量结果产生干扰。;遵循标准规范;PART;耦合网络

耦合网络是实施非同步瞬态注入法的关键设备，它需具备精确的阻抗和传输特性，以确保骚扰信号能够准确、有效地施加到受试器件(DUT)的引脚上。耦合网络的选择和设计需严格遵循标准要求，以保证测试结果的准确性和可靠性。

信号发生器

信号发生器用于产生符合标准要求的瞬态骚扰信号。其输出信号的波形、幅度、重复率等参数需精确可调，以满足不同测试需求。同时，信号发生器应具备足够的输出功率，以确保骚扰信号能够穿透受试器件的保护电路，对其内部电路造成有效影响。;测量设备与配置的关键点;PART;瞬态骚扰的定义与特性

瞬态骚扰是指交流电网上出现的浪涌电压、振铃电压、火花放电等瞬间干扰信号，其特点是作用时间极短，但电压幅度高、瞬态能量大。这些瞬态骚扰信号可能对集成电路的正常工作造成严重影响。

瞬态骚扰对集成电路性能的影响

瞬态骚扰可能导致集成电路输出电压的波动，甚至当瞬态电压叠加在整流滤波后的直流输入电压上，使该电压超过内部功率开关管的漏-源击穿电压时，会损坏集成电路芯片。此外，瞬态骚扰还可能引起集成电路的性能降级，如信号抖动、误码率增加等。;静电放电(ESD)和电快速瞬变脉冲群(EFT)的危害

静电放电和电快速瞬变脉冲群是两种常见的瞬态骚扰源。静电放电在高频范围内产生强烈的射频辐射，可能通过I/O电缆耦合到集成电路内部，造成软硬件电路故障甚至失效。电快速瞬变脉冲群则产生强烈的辐射发射，通过电源线等途径耦合到集成电路，影响其正常工作。

瞬态骚扰的防护措施

为了应对瞬态骚扰对集成电路的影响，可以采取多种防护措施。例如，使用电源线滤波器对电源进行保护，利用共模电容和共模扼流圈抑制瞬态干扰。此外，还可以对I/O电缆进行屏蔽处理，减少静电放电等辐射能量的耦合。这些措施可以有效提高集成电路的电磁兼容性和抗扰度。;PART;传导电瞬态骚扰概述

传导电瞬态骚扰是指在电气和电子系统中，由于开关操作、雷电冲击、静电放电等因素引起的短暂、非周期性的电压或电流波动。这些波动可能通过电源线、信号线等导体传播，对集成电路(IC)等敏感