测量系统分析培训讲义.pptx

测量系统分析

(MeasurementSystemsAnalysis)

培训讲义

测量数据的质量

●测量数据的质量

稳定条件下运行某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性

●偏差太大或变差太大都将直接导致低质量的测量数据

术语

测量

赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系

量具

任何用来获取测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置，包括用来测量合格/不合格装置

测量系统

●用来对测量单元进行量化或对被测特性进行评估，所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、设备、软件、人员、环境及假设的集合；用来获得测量结果的整个过程

术语

分辨力(率)

●分辨率(力)——测量系统能发现并真实地表示被测特性很小变化的能力

●别名：最小可读单位、测量解析度、最小刻度极限或探测的最小极限

一个仪器测量或输出的最小刻度单位●通常被显示为测量单位

10:1(过程变差或公差)的比例法则

●要求不低于过程变差或允许偏差的十分之一。零件之间的差异必须大于最小测量刻度

●极差控制图可显示分辨率是否足够

●数据分级(ndc)的计算为

1.41(零件的标准偏差/总的量具偏差)一般要求它大于5才可接

受

测量系统的有效分辨率

.2.2.28.28.279.281

.2.2

.30.28280.278

直尺卡尺千分尺

术语

参考值

●某一个物品的可接受数的值

●需要一个可操作的定义

●常被用来代替真值的使用

真值

●物品的实际数值

●不可知的且无法知道的

术语

准确度

重复测量均值与真值间的一致性。表示测量系统误差大小。常用绝对值表示，即偏倚的绝对值。与真值或可接受的参考值“接近”的程度

精密度

表示测量随机误差大小，常用标准差表示

准且精

准而不精

图精确度、准确度示意

精而不准

不准不精

术语

偏倚

●观测到的测量值的平均值与参考值之间的差值

是测量系统的系统误差所构成

术语

●稳定性(漂移)

●随时间变化的偏倚值

一个稳定的测量过程在位置方面是处于统计上受控状态

术语

线性

●在量具正常工作量程内的偏倚变化量

●多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的关系

●是测量系统的系统误差所构成

术语

重复性

一位评价人使用一种测量仪器，对同一零件的同一特性进行多次测量下的变差

●是在固定和已定义的测量条件下，连续(短期内)多次测量中的变差

●通常被称为E.V.-设备变差

●设备(量具)的能力或潜能

术语

再现性

●由不同的评价人使用同一个量具，测量一个

零件的同一特性时产生的测量平均值的变

差

●在对于产品和过程进行鉴定时，误差可能是评价人、环境(时间)或方法

●通常被称为A.V-评价人变差

术语

GRR或量具的重复性和再现性

量具的重复性和再现性：测量系统重复性和再现性联合评估值

●测量系统能力：取决于使用的方法，可能包括或不包括时间影响

测量过程

测量系统统计特性

●理想的测量系统在每次测量时，应只产生“正确”的测量结果，每次测量结果总应该与一个标准值相符

一个能产生理想测量结果的测量系统，应具零方差、零偏倚、和对所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性

优良测量系统的基本特性

足够的分辨率(10:1原则)

●具统计稳定性、亦即测量系统的变差只能是由于普通原因而非特殊原因造成的

●测量系统的变异须小于规格公差或过程变异

测量过程

变异源

标准工件仪器

测量系统变差

人环境

测量系统变差的影响

对产品决策的影响

●第一类错误(生产者风险/假警报):一个好的零件有时被误判为“不合格”

●第二类错误(消费者风险/漏判率):一个不合格的零件有时被误判为“合格”

LSL

测量系统变差的影响

对产品决策的影响

O

l:不合格零件总是判断为不合格

lⅡ:可能做出错误的判断

I:合格零件总是判断为合格

改进过程：生产的

产品集中在区

域ⅢUSL

改进测量系统：减少区域Ⅱ面积

LSL

III

II

II

I

I

测量系统变差的影响

对过程决策的影响

●将普通原因判断为特殊原因

●将特殊原因判断为普通原因

(Cp)观察=(Cp)-²实际+(Cp)²测量系统

实际的

GRR

10%

20%

30%

40%

50%

60%

70%

90%

观测的Cp与基于过程范围的Cp

1.3

1.29

1.27

1.24

1.19

1.13

1.04

0.93

0.